Hasta el 30 de abril se pueden presentar trabajos para participar en la quinta versión de la conferencia más importante sobre la ingeniería de control en la región.
La V IEEE Conferencia Colombia de Control Automático – CCAC se llevará a cabo entre el 19 y el 22 de octubre de 2021 y se centrará en los avances tecnológicos para el desarrollo regional sostenible. El objetivo de la Conferencia es reunir a investigadores y profesionales, académicos e industriales para discutir el estado del arte, la investigación, los avances y las aplicaciones de la ingeniería de control para fomentar el desarrollo de la tecnología en Colombia y en la región de América Latina. El énfasis temático de la Conferencia cubrirá la teoría, los temas de implementación y las experiencias relacionadas con las aplicaciones del control, la automatización y los métodos en la investigación, la academia y la industria.
Este evento es organizado por la Universidad de los Andes, la Universidad Javeriana, la Universidad del Cauca, la Universidad de Ibagué, Universidad Distrital, Universidad Tecnológica de Pereira, IEEE, IEEE Colombia y CSS Colombian Chapter. Dentro del comité organizador de Uniandes están los profesores Nicanor Quijano como Awards Chair y Luis Felipe Giraldo como IPS Chair del departamento de Ingeniería Eléctrica y Electrónica.
Durante esta Conferencia, se contará con la participación de conferencistas internacionales y, además, se realizará el Reto Controlavirus que busca brindar soluciones para mitigar la problemática de salud pública generada por el COVID-19 a partir de la teoría de control. Se premiarán las tres mejores propuestas con dinero y a través de una publicación en la revista Ingeniería (Publindex B) de la Universidad Distrital Francisco José de Caldas.
Aquellos estudiantes, profesores e investigadores interesados en enviar sus artículos para ser presentados durante esta conferencia pueden hacerlo hasta el 30 de abril. Todos los trabajos seleccionados serán publicados en los Proceedings de la Conferencia y las versiones en inglés en IEEE Xplore. Para más información, consulta el sguiente enlace
